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著者名 (author) 表題 (title) 論文誌/会議名 巻号 ページ範囲 (pages) 出版年月 JCR/採択率 File
著書
 T. Sato, M. Hashimoto, S. Tanakamaru, K. Takeuchi, Y. Sato, S. Kajihara, M. Yoshimoto, J. Jung, Y. Kimi, H. Kawaguchi, H. Shimada, J. Yao
 Time-Dependent Degradation in Device Characteristics and Countermeasures by Design
 Book chapter, VLSI Design and Test for Systems Dependability, Springer
2018年8月