Language: 英語 | 日本語 || ログイン |

1 件の該当がありました. : このページのURL : HTML

S. Kimura, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Body Bias Clustering for Low Test-Cost Post-Silicon Tuning," Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC), pp. 283--289, February 2012.
ID 311
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Body Bias Clustering for Low Test-Cost Post-Silicon Tuning
表題 (英文)
著者名 (author) S. Kimura,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 283--289
刊行月 (month) 2
出版年 (year) 2012
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 167.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id311,
         title = {Body Bias Clustering for Low Test-Cost Post-Silicon Tuning },
        author = {S. Kimura and M. Hashimoto and T. Onoye},
       journal = {Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)},
         pages = {283--289},
         month = {2},
          year = {2012},
}