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H. Fuketa, M. Hashimoto, Y. Mitsuyama, and T. Onoye, "Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), pp. 213--217, May 2010.
ID 260
分類 国際会議
タグ 10t 65-nm alpha-particle-induced cell errors multiple soft sram subthreshold upsets
表題 (title) Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM
表題 (英文)
著者名 (author) H. Fuketa,M. Hashimoto,Y. Mitsuyama,T. Onoye
英文著者名 (author) H. Fuketa,M. Hashimoto,Y. Mitsuyama,T. Onoye
キー (key) H. Fuketa,M. Hashimoto,Y. Mitsuyama,T. Onoye
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 213--217
刊行月 (month) 5
出版年 (year) 2010
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 140.PDF (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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         title = {Alpha-Particle-Induced Soft Errors and Multiple Cell Upsets in {65-nm} {10T} Subthreshold {SRAM}},
        author = {H. Fuketa and M. Hashimoto and Y. Mitsuyama and T. Onoye},
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