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国際会議
[1] Y. Higuchi, K. Shinkai, M. Hashimoto, R. Rao, and S. Nassif, "Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator," Proceedings of IEEE European Test Symposium (ETS), pages 106--111, May 2013. [186.pdf]
国内会議(査読付き)
[1] 樋口裕磨, 新開健一, 橋本昌宜, R. Rao, S. Nassif, "感度可変リングオシレータを用いたデバイスパラメータばらつき推定," 情報処理学会DAシンポジウム, 2012年8月.