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研究会・全国大会等

[1] 作田賢志朗, 安部晋一郎, 渡辺幸信, 原田諒, 橋本昌宜, 更田裕司, 上村大樹, "宇宙線中性子起因マルチセルアップセットのスケーリング則調査," 応用物理学会秋期学術講演会, 2013年9月.

[2] 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価," LSI とシステムのワークショップ, 2013年5月.

[3] 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, number VLD2012-100, pages 237--241, 2012年11月.

[4] 安部晋一郎, 渡辺幸信, 原田諒, 橋本昌宜, 更田裕司, 上村大樹, "宇宙線中性子起因ソフトエラーに関するマルチセルアップセット解析," 応用物理学会秋期学術講演会, 2012年9月.

[5] 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "高時間分解能を実現するSETパルス幅測定回路の提案," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, number VLD2010-55, pages 77--82, 2010年9月.

[6] 原田諒, 更田裕司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-," LSIとシステムのワークショップ, pages 212--214, 2010年5月.