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原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価," LSI とシステムのワークショップ, 2013年5月. | |
ID | 354 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
英文著者名 (author) |
原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
キー (key) |
原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
定期刊行物名 (journal) |
LSI とシステムのワークショップ |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
5 |
出版年 (year) |
2013 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
@article{id354, title = {放射線起因一過性パルスが信頼性に与える影響の実験的評価}, author = {原田諒 and 密山幸男 and 橋本昌宜 and 尾上孝雄}, journal = {LSI とシステムのワークショップ}, month = {5}, year = {2013}, } |