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原田諒, 更田裕司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-," LSIとシステムのワークショップ, pp. 212--214, 2010年5月. | |
ID | 287 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価- |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
英文著者名 (author) |
原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
キー (key) |
原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
定期刊行物名 (journal) |
LSIとシステムのワークショップ |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
212--214 |
刊行月 (month) |
5 |
出版年 (year) |
2010 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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