: 原田諒, 更田裕司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-, 2010年5月.
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| 原田諒, 更田裕司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-," LSIとシステムのワークショップ, pp. 212--214, 2010年5月. | |
| ID | 287 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価- |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
| 英文著者名 (author) |
原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
| キー (key) |
原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
| 定期刊行物名 (journal) |
LSIとシステムのワークショップ |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
212--214 |
| 刊行月 (month) |
5 |
| 出版年 (year) |
2010 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id287,
title = {α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-},
author = {原田諒 and 更田裕司 and 密山幸男 and 橋本昌宜 and 尾上孝雄},
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