原田諒, 更田裕司, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-," LSIとシステムのワークショップ, pp. 212--214, 2010年5月.
ID 287
分類 研究会・全国大会等
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表題 (title) α線起因ソフトエラー測定 -SETパルス幅測定回路の提案および超低電圧SRAMのSEU耐性評価-
表題 (英文)
著者名 (author) 原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄
英文著者名 (author) 原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄
キー (key) 原田諒,更田裕司,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄
定期刊行物名 (journal) LSIとシステムのワークショップ
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 212--214
刊行月 (month) 5
出版年 (year) 2010
Impact Factor (JCR)
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