: 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, 中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定, 2012年11月.
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| 原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, VLD2012-100, pp. 237--241, 2012年11月. | |
| ID | 330 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
| 英文著者名 (author) |
原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
| キー (key) |
原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄 |
| 定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会 |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
VLD2012-100 |
| ページ範囲 (pages) |
237--241 |
| 刊行月 (month) |
11 |
| 出版年 (year) |
2012 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id330,
title = {中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定},
author = {原田諒 and 密山幸男 and 橋本昌宜 and 尾上孝雄},
journal = {電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会},
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