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原田諒, 密山幸男, 橋本昌宜, 尾上孝雄, "中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, VLD2012-100, pp. 237--241, 2012年11月.
ID 330
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) 中性子起因一過性複数パルスの電源電圧及び基板バイアス依存性測定
表題 (英文)
著者名 (author) 原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄
英文著者名 (author) 原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄
キー (key) 原田諒,密山幸男,橋本昌宜,尾上孝雄
定期刊行物名 (journal) 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number) VLD2012-100
ページ範囲 (pages) 237--241
刊行月 (month) 11
出版年 (year) 2012
Impact Factor (JCR)
URL
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BiBTeXエントリ
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