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論文誌

[1] 金本俊幾, 佐藤高史, 黒川敦, 川上善之, 岡宏規, 北浦智靖, 小林宏行, 橋本昌宜, "遅延計算におけるインダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法," 情報処理学会論文誌, volume 44, number 5, pages 1301-1310, 2003年5月. [21.pdf]

国内会議(査読付き)

[1] 小谷憲, 増田弘生, 成木保文, 奥村隆昌, 城間誠, 金本俊幾, 古川且洋, 山中俊輝, 小笠原泰弘, 佐藤高史, 橋本昌宜, 黒川敦, 田中正和, "微細CMOSタイミング設計の新しいコーナー削減方法," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 193--198, 2012年8月.

[2] 城間誠, 山中俊輝, 小笠原泰弘, 金本俊幾, 成木保文, 奥村隆昌, 増田弘生, 古川且洋, 佐藤高史, 橋本昌宜, 黒川敦, 田中正和, "微細プロセス（22nm世代）における配線コーナー設計手法の検討," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 199--204, 2012年8月.

[3] 佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, "CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析," 情報処理学会DAシンポジウム, 2011年9月.

[4] 増田弘生, 佐方剛, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, 金本俊幾, "RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 209--214, 2010年9月.

[5] 佐方剛, 黒川敦, 奥村隆昌, 中島英斉, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 蜂屋孝太郎, 古川且洋, 田中正和, 高藤浩資, 金本俊幾, "製造ばらつきに起因するリーク電流変動の低減アプローチ," 第22回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 444--449, 2009年4月. [120.pdf]

[6] 奥村隆昌, 黒川敦, 増田弘生, 金本俊幾, 佐藤高史, 橋本昌宜, 高藤浩資, 中島英斉, 小野信任, "Vth ばらつきに拠る出力遷移時間ばらつきの解析," 第21回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 299--304, 2008年4月.

[7] 増田弘生, 大川眞一, 黄田剛, 奥村隆昌, 黒川敦, 金本俊幾, 佐藤高史, 橋本昌宜, 高藤浩資, 中島英斉, 小野信任, "チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関," 第21回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 617--622, 2008年4月.

[8] 中林太美世, 黒川敦, 増田弘生, 橋本昌宜, 佐藤高史, "45-65nmプロセスにおける遅延ばらつき特性の環境温度依存," 第20回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 691--696, 2007年4月. [86.pdf]

[9] 高藤浩資, 小林宏行, 小野信任, 増田弘生, 中島英斉, 奥村隆昌, 橋本昌宜, 佐藤高史, "統計的STAでのスルー依存性を考慮した遅延ばらつき計算手法の提案," 第20回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 709--714, 2007年4月. [87.pdf]

[10] 小林宏行、小野信任、佐藤高史、岩井二郎、橋本昌宜, "統計的STA の精度検証手法," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 7-12, 2006年7月.

[11] 小林宏行, 小野信任, 佐藤高史, 岩井二郎, 橋本昌宜, "統計的STAの有効性の検証手法," 第19回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 553-558, 2006年4月. [74.pdf]

[12] 佐藤高史, 市宮淳次, 小野信任, 蜂屋孝太郎, 橋本昌宜, "フロアプランにおけるオンチップ熱ばらつきの解析と対策," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 133-138, 2004年7月.

[13] 金本俊幾, 佐藤高史, 黒川敦, 川上善之, 岡宏規, 北浦智靖, 池内敦彦, 小林宏行, 橋本昌宜, "0.1μm級LSIの遅延計算における寄生インダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 149-154, 2002年7月.

[14] 佐藤高史, 金本俊幾, 黒川敦, 川上善之, 岡宏規, 北浦智靖, 池内敦彦, 小林宏行, 橋本昌宜, "インダクタンスが配線遅延に及ぼす影響の定量的評価方法," 第15回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 493-498, 2002年4月.

研究会・全国大会等

[1] 榎並孝司, 橋本昌宜, 佐藤高史, "電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, number VLD2008-161, 2009年3月.

[2] 小笠原泰弘, 榎並孝司, 橋本昌宜, 佐藤高史、尾上孝雄, "電源ノイズによる遅延変動の測定とフルチップシミュレーションによる遅延変動の再現," 電子情報通信学会 集積回路研究会,, number ICD2006-174, 2007年1月.

[3] 佐藤高史, 金本俊幾, 黒川敦, 川上善之, 岡宏規, 北浦智靖, 池内敦彦, 小林宏行, 橋本昌宜, "インダクタンスに起因する配線遅延変動の統計的予測手法," 2002年電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, number TA-2-4, pages 247-248, 2002年9月.

解説

[1] 佐藤高史, 橋本昌宜, "経時劣化概説," 信頼性学会誌, volume 35, number 8, pages 457--458, 2013年12月.