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国内会議(査読付き)
[1] 佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, "CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析," 情報処理学会DAシンポジウム, 2011年9月.
[2] 増田弘生, 佐方剛, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, 金本俊幾, "RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討," 情報処理学会DAシンポジウム, pages 209--214, 2010年9月.
[3] 佐方剛, 黒川敦, 奥村隆昌, 中島英斉, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 蜂屋孝太郎, 古川且洋, 田中正和, 高藤浩資, 金本俊幾, "製造ばらつきに起因するリーク電流変動の低減アプローチ," 第22回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pages 444--449, 2009年4月. [120.pdf]