: 増田弘生, 佐方剛, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, 金本俊幾, RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討, 2010年9月.
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| 増田弘生, 佐方剛, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, 金本俊幾, "RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討," 情報処理学会DAシンポジウム, pp. 209--214, 2010年9月. | |
| ID | 281 |
| 分類 | 国内会議(査読付き) |
| タグ | |
| 表題 (title) |
RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
増田弘生,佐方剛,佐藤高史,橋本昌宜,古川且洋,田中正和,山中俊輝,金本俊幾 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
情報処理学会DAシンポジウム |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
209--214 |
| 刊行月 (month) |
9 |
| 出版年 (year) |
2010 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id281,
title = {RTNを考慮した回路特性ばらつき解析方法の検討},
author = {増田弘生 and 佐方剛 and 佐藤高史 and 橋本昌宜 and 古川且洋 and 田中正和 and 山中俊輝 and 金本俊幾},
journal = {情報処理学会DAシンポジウム},
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year = {2010},
}
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