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佐方剛, 黒川敦, 奥村隆昌, 中島英斉, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 蜂屋孝太郎, 古川且洋, 田中正和, 高藤浩資, 金本俊幾, "製造ばらつきに起因するリーク電流変動の低減アプローチ," 第22回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pp. 444--449, 2009年4月. | |
ID | 238 |
分類 | 国内会議(査読付き) |
タグ | |
表題 (title) |
製造ばらつきに起因するリーク電流変動の低減アプローチ |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
佐方 剛,黒川 敦,奥村 隆昌,中島 英斉,増田 弘生,佐藤 高史,橋本 昌宜,蜂屋 孝太郎,古川 且洋,田中 正和,高藤 浩資,金本 俊幾 |
英文著者名 (author) |
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キー (key) |
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定期刊行物名 (journal) |
第22回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
444--449 |
刊行月 (month) |
4 |
出版年 (year) |
2009 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 120.pdf (application/pdf) [一般閲覧可] |
BiBTeXエントリ |
@article{id238, title = {製造ばらつきに起因するリーク電流変動の低減アプローチ}, author = {佐方 剛 and 黒川 敦 and 奥村 隆昌 and 中島 英斉 and 増田 弘生 and 佐藤 高史 and 橋本 昌宜 and 蜂屋 孝太郎 and 古川 且洋 and 田中 正和 and 高藤 浩資 and 金本 俊幾}, journal = {第22回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ}, pages = {444--449}, month = {4}, year = {2009}, } |