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佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, "CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析," 情報処理学会DAシンポジウム, 2011年9月. | |
ID | 306 |
分類 | 国内会議(査読付き) |
タグ | |
表題 (title) |
CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
佐方剛,成木保文,奥村隆昌,金本俊幾,増田弘生,佐藤高史,橋本昌宜,古川且洋,田中正和,山中俊輝 |
英文著者名 (author) |
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キー (key) |
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定期刊行物名 (journal) |
情報処理学会DAシンポジウム |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
9 |
出版年 (year) |
2011 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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