佐方剛, 成木保文, 奥村隆昌, 金本俊幾, 増田弘生, 佐藤高史, 橋本昌宜, 古川且洋, 田中正和, 山中俊輝, "CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析," 情報処理学会DAシンポジウム, 2011年9月.
ID 306
分類 国内会議(査読付き)
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表題 (title) CMOSドライバ回路遅延のNBTI劣化ばらつき特性解析
表題 (英文)
著者名 (author) 佐方剛,成木保文,奥村隆昌,金本俊幾,増田弘生,佐藤高史,橋本昌宜,古川且洋,田中正和,山中俊輝
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) 情報処理学会DAシンポジウム
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2011
Impact Factor (JCR)
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BiBTeXエントリ 
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