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増田弘生, 大川眞一, 黄田剛, 奥村隆昌, 黒川敦, 金本俊幾, 佐藤高史, 橋本昌宜, 高藤浩資, 中島英斉, 小野信任, "チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関," 第21回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pp. 617--622, 2008年4月. | |
ID | 207 |
分類 | 国内会議(査読付き) |
タグ | |
表題 (title) |
チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
増田 弘生,大川 眞一,黄田 剛,奥村 隆昌,黒川 敦,金本 俊幾,佐藤 高史,橋本 昌宜,高藤 浩資,中島 英斉,小野 信任 |
英文著者名 (author) |
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キー (key) |
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定期刊行物名 (journal) |
第21回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
617--622 |
刊行月 (month) |
4 |
出版年 (year) |
2008 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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