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増田弘生, 大川眞一, 黄田剛, 奥村隆昌, 黒川敦, 金本俊幾, 佐藤高史, 橋本昌宜, 高藤浩資, 中島英斉, 小野信任, "チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関," 第21回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ, pp. 617--622, 2008年4月.
ID 207
分類 国内会議(査読付き)
タグ
表題 (title) チップ内システマティックばらつきと回路スキュー特性相関
表題 (英文)
著者名 (author) 増田 弘生,大川 眞一,黄田 剛,奥村 隆昌,黒川 敦,金本 俊幾,佐藤 高史,橋本 昌宜,高藤 浩資,中島 英斉,小野 信任
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) 第21回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 617--622
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2008
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
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内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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