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T. Uemura, T. Kato, R. Tanabe, H. Iwata, H. Matsuyama, M. Hashimoto, K. Takahisa, M. Fukuda, and K. Hatanaka, "Preventing Single Event Latchup with Deep P-Well on P-Substrate," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), June 2014.
ID 377
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Preventing Single Event Latchup with Deep P-Well on P-Substrate
表題 (英文)
著者名 (author) T. Uemura,T. Kato,R. Tanabe,H. Iwata,H. Matsuyama,M. Hashimoto,K. Takahisa,M. Fukuda,K. Hatanaka
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 6
出版年 (year) 2014
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 203.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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