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論文誌

[1] R. Harada, S. Abe, H. Fuketa, T. Uemura, M. Hashimoto, and Y. Watanabe, "Angular Dependency of Neutron Induced Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM," IEEE Transactions on Nuclear Science, volume 59, number 6, pages 2791--2795, December 2012. [175.pdf]

国際会議

[1] T. Uemura, T. Kato, S. Okano, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Impact of Package on Neutron Induced Single Event Upset in 20 nm SRAM," Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS), April 2015. [215.pdf]

[2] T. Uemura, S. Okano, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Soft Error Immune Latch Design for 20 nm Bulk CMOS," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), April 2015. [217.pdf]

[3] R. Harada, S. Abe, H. Fuketa, T. Uemura, M. Hashimoto, and Y. Watanabe, "Angular Dependency of Neutron Induced Multiple Cell Upsets in 65-nm 10T Subthreshold SRAM," IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), July 2012.

[4] S. Uemura, T. Miyazaki, M. Hashimoto, and H. Onodera, "Estimation of Maximum Oscillation Frequency for CMOS LCVCOs," In Proceedings of IEEJ International Analog VLSI Workshop, October 2005.

研究会・全国大会等

[1] 上村晋一朗, 土谷亮, 橋本昌宜, 小野寺秀俊, "ロードマップに準拠したSPICEトランジスタモデルの構築," 2006年電子情報通信学会総合大会講演論文集, number A-3-16, 2006年3月. [76.pdf]

[2] 上村晋一朗, 橋本昌宜, 小野寺秀俊, "LC共振器におけるMOSFETの抵抗成分を考慮した等価並列抵抗の見積もり," 2005年電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集, number C-12-39, 2005年9月. [79.pdf]

[3] 上村晋一朗, 橋本昌宜, 小野寺秀俊, "SOIの基板抵抗率がLNAの性能に及ぼす影響の評価," 第四回シリコンアナログRF研究会, 2005年5月.

[4] 上村晋一朗, 橋本昌宜, 小野寺秀俊, "LC型VCO最大発振周波数の実験的検討," 第三回シリコンアナログRF研究会, 2005年1月.

[5] 上村晋一朗, 橋本昌宜, 小野寺秀俊, "高周波CMOSデバイスモデルを用いたLCVCOの特性見積もりと実測," 第二回シリコンアナログRF研究会, 2004年8月.