Search: 簡易 | 詳細 || Language: 英語 | 日本語 || ログイン |

この検索内の頻出タグ: 20:1 bulk:1 cmos:1 design:1 error:1 immune:1 latch:1 nm:1 soft:1

1 件の該当がありました． : このページのURL : HTML


国際会議
[1] T. Uemura, S. Okano, T. Kato, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Soft Error Immune Latch Design for 20 nm Bulk CMOS," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), April 2015. [217.pdf]