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T. Uemura, T. Kato, S. Okano, H. Matsuyama, and M. Hashimoto, "Impact of Package on Neutron Induced Single Event Upset in 20 nm SRAM," Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS), April 2015.
ID 400
分類 国際会議
タグ 20 event impact induced neutron nm package single sram upset
表題 (title) Impact of Package on Neutron Induced Single Event Upset in 20 nm SRAM
表題 (英文)
著者名 (author) T. Uemura,T. Kato,S. Okano,H. Matsuyama,M. Hashimoto
英文著者名 (author) T. Uemura,T. Kato,S. Okano,H. Matsuyama,M. Hashimoto
キー (key) T. Uemura,T. Kato,S. Okano,H. Matsuyama,M. Hashimoto
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2015
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 215.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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