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宮崎崇仁, 橋本昌宜, 小野寺秀俊, "デジタルCMOSプロセスを使用したクロック生成向けPLLの将来性能予測 ーLC発振型VCOを用いたPLLの有効性ー," 電子情報通信学会集積回路研究会, ICD2003-99, pp. 29-34, 2003年9月.
ID 129
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) デジタルCMOSプロセスを使用したクロック生成向けPLLの将来性能予測 ーLC発振型VCOを用いたPLLの有効性ー
表題 (英文)
著者名 (author) 宮崎崇仁,橋本昌宜,小野寺秀俊
英文著者名 (author) T. Miyazaki,M. Hashimoto,H. Onodera
編者名 (editor)
編者名 (英文)
キー (key) T. Miyazaki,M. Hashimoto,H. Onodera
書籍・会議録表題 (booktitle) 電子情報通信学会集積回路研究会
書籍・会議録表題(英文)
巻数 (volume)
号数 (number) ICD2003-99
ページ範囲 (pages) 29-34
組織名 (organization)
出版元 (publisher)
出版元 (英文)
出版社住所 (address)
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2003
採択率 (acceptance)
URL
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注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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