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W. Liao, M. Hashimoto, S. Manabe, Y. Watanabe, S. Abe, M. Tampo, S. Takeshita, and Y. Miyake, "Negative and Positive Muon-Induced SEU Cross Sections in 28-nm and 65-nm Planar Bulk CMOS SRAMs," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), April 2019.
ID 500
分類 国際会議
タグ 28-nm 65-nm bulk cmos cross muon-induced negative planar positive sections seu srams
表題 (title) Negative and Positive Muon-Induced SEU Cross Sections in 28-nm and 65-nm Planar Bulk CMOS SRAMs
表題 (英文)
著者名 (author) W. Liao,M. Hashimoto,S. Manabe,Y. Watanabe,S. Abe,M. Tampo,S. Takeshita,Y. Miyake
英文著者名 (author) W. Liao,M. Hashimoto,S. Manabe,Y. Watanabe,S. Abe,M. Tampo,,Y. Miyake
キー (key) W. Liao,M. Hashimoto,S. Manabe,Y. Watanabe,S. Abe,M. Tampo,,Y. Miyake
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2019
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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         title = {Negative and Positive Muon-induced {SEU} Cross Sections in {28-nm} and {65-nm} Planar Bulk {CMOS} {SRAMs}},
        author = {W. Liao and M. Hashimoto and S. Manabe and Y. Watanabe and S. Abe and M. Tampo and S. Takeshita and Y. Miyake},
       journal = {Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)},
         month = {4},
          year = {2019},
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