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Y. Ogasahara, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Measurement and Analysis of Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects," IEEE Journal of Solid-State Circuits, 43(3), pp. 718--728, March 2008.
ID 196
分類 論文誌
タグ
表題 (title) Measurement and Analysis of Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects
表題 (英文)
著者名 (author) Y. Ogasahara,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) IEEE Journal of Solid-State Circuits
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) 43
号数 (number) 3
ページ範囲 (pages) 718--728
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2008
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 99.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id196,
         title = {Measurement and Analysis of Inductive Coupling Noise in 90nm Global Interconnects},
        author = {Y. Ogasahara and M. Hashimoto and T. Onoye},
       journal = {IEEE Journal of Solid-State Circuits},
        volume = {43},
        number = {3},
         pages = {718--728},
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          year = {2008},
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