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K. Takami, Y. Gomi, S. Abe, W. Liao, S. Manabe, T. Matsumoto, and M. Hashimoto, "Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), March 2023.
ID 606
分類 国際会議
タグ 12- 14.8 28-nm 6.0 8.0 characterizing cross mev neutrons sections seu srams
表題 (title) Characterizing SEU Cross Sections of 12- and 28-nm SRAMs for 6.0, 8.0, and 14.8 MeV Neutrons
表題 (英文)
著者名 (author) K. Takami,Y. Gomi,S. Abe,W. Liao,S. Manabe,T. Matsumoto,M. Hashimoto
英文著者名 (author) ,,S. Abe,W. Liao,S. Manabe,,M. Hashimoto
キー (key) ,,S. Abe,W. Liao,S. Manabe,,M. Hashimoto
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2023
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id606,
         title = {Characterizing {SEU} Cross Sections of 12- and {28-nm} {SRAMs} for 6.0, 8.0, and 14.8 {MeV} Neutrons},
        author = {K. Takami and Y. Gomi and S. Abe and W. Liao and S. Manabe and T. Matsumoto and M. Hashimoto},
       journal = {Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS)},
         month = {3},
          year = {2023},
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