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川瀬頌一郎, 福田, 渡辺幸信, 新倉潤, 橋本昌宜, "半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要," 日本原子力学会2021年秋の大会, 2021年9月. | |
ID | 583 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
川瀬頌一郎,福田 宏哉,渡辺幸信,新倉潤,橋本昌宜 |
英文著者名 (author) |
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キー (key) |
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定期刊行物名 (journal) |
日本原子力学会2021年秋の大会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
9 |
出版年 (year) |
2021 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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