: 川瀬頌一郎, 福田, 渡辺幸信, 新倉潤, 橋本昌宜, 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要, 2021年9月.
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| 川瀬頌一郎, 福田, 渡辺幸信, 新倉潤, 橋本昌宜, "半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要," 日本原子力学会2021年秋の大会, 2021年9月. | |
| ID | 583 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
川瀬頌一郎,福田 宏哉,渡辺幸信,新倉潤,橋本昌宜 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
日本原子力学会2021年秋の大会 |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
9 |
| 出版年 (year) |
2021 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id583,
title = {半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応測定計画 (1)概要},
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