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R. Harada, S. Hirokawa, and M. Hashimoto, "Measurement of Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4 V SRAMs," IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC), July 2014.
ID 379
分類 国際会議
タグ 0.4 alpha- bulk mcu measurement neutron-induced seu sotb srams v
表題 (title) Measurement of Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4 V SRAMs
表題 (英文)
著者名 (author) R. Harada,S. Hirokawa,M. Hashimoto
英文著者名 (author) R. Harada,S. Hirokawa,M. Hashimoto
キー (key) R. Harada,S. Hirokawa,M. Hashimoto
定期刊行物名 (journal) IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 7
出版年 (year) 2014
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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