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橋本昌宜, "環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題," 日本原子力学会誌ATOMOΣ, 65(5), pp. 323-325, 2023年5月.
ID 617
分類 解説
タグ
表題 (title) 環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題
表題 (英文)
著者名 (author) 橋本昌宜
英文著者名 (author) M. Hashimoto
キー (key) M. Hashimoto
定期刊行物名 (journal) 日本原子力学会誌ATOMOΣ
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) 65
号数 (number) 5
ページ範囲 (pages) 323-325
刊行月 (month) 5
出版年 (year) 2023
Impact Factor (JCR)
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内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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