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| 橋本昌宜, "環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題," 日本原子力学会誌ATOMOΣ, 65(5), pp. 323-325, 2023年5月. | |
| ID | 617 |
| 分類 | 解説 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
橋本昌宜 |
| 英文著者名 (author) |
M. Hashimoto |
| キー (key) |
M. Hashimoto |
| 定期刊行物名 (journal) |
日本原子力学会誌ATOMOΣ |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
65 |
| 号数 (number) |
5 |
| ページ範囲 (pages) |
323-325 |
| 刊行月 (month) |
5 |
| 出版年 (year) |
2023 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません. |
| BiBTeXエントリ |
@article{id617,
title = {環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題},
author = {橋本昌宜},
journal = {日本原子力学会誌ATOMOΣ},
volume = {65},
number = {5},
pages = {323-325},
month = {5},
year = {2023},
}
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