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橋本昌宜, "環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題," 日本原子力学会誌ATOMOΣ, 65(5), pp. 323-325, 2023年5月. | |
ID | 617 |
分類 | 解説 |
タグ | |
表題 (title) |
環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
橋本昌宜 |
英文著者名 (author) |
M. Hashimoto |
キー (key) |
M. Hashimoto |
定期刊行物名 (journal) |
日本原子力学会誌ATOMOΣ |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
65 |
号数 (number) |
5 |
ページ範囲 (pages) |
323-325 |
刊行月 (month) |
5 |
出版年 (year) |
2023 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
@article{id617, title = {環境放射線と半導体デバイスのソフトエラー ミューオン起因ソフトエラーの測定と課題}, author = {橋本昌宜}, journal = {日本原子力学会誌ATOMOΣ}, volume = {65}, number = {5}, pages = {323-325}, month = {5}, year = {2023}, } |