: 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Y. DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, 12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価, 2023年4月.
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| 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Y. DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, "12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価," 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月. | |
| ID | 614 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
五味唯美,高見一総,水野るり惠,新倉潤,Yifan DENG,川瀬頒一郎,渡辺幸信,安部晋一郎,廖望,反保元伸,梅垣いづみ,竹下聡史,下村浩一郎,三宅康博,橋本昌宜 |
| 英文著者名 (author) |
,,,,,,渡辺幸信,安部晋一郎,,,,,,,M. Hashimoto |
| キー (key) |
,,,,,,渡辺幸信,安部晋一郎,,,,,,,M. Hashimoto |
| 定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会 集積回路研究会 |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
4 |
| 出版年 (year) |
2023 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id614,
title = {12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価},
author = {五味唯美 and 高見一総 and 水野るり惠 and 新倉潤 and Yifan DENG and 川瀬頒一郎 and 渡辺幸信 and 安部晋一郎 and 廖望 and 反保元伸 and 梅垣いづみ and 竹下聡史 and 下村浩一郎 and 三宅康博 and 橋本昌宜},
journal = {電子情報通信学会 集積回路研究会},
month = {4},
year = {2023},
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