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五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Y. DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, "12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価," 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月. | |
ID | 614 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
五味唯美,高見一総,水野るり惠,新倉潤,Yifan DENG,川瀬頒一郎,渡辺幸信,安部晋一郎,廖望,反保元伸,梅垣いづみ,竹下聡史,下村浩一郎,三宅康博,橋本昌宜 |
英文著者名 (author) |
,,,,,,渡辺幸信,安部晋一郎,,,,,,,M. Hashimoto |
キー (key) |
,,,,,,渡辺幸信,安部晋一郎,,,,,,,M. Hashimoto |
定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会 集積回路研究会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
4 |
出版年 (year) |
2023 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
@article{id614, title = {12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価}, author = {五味唯美 and 高見一総 and 水野るり惠 and 新倉潤 and Yifan DENG and 川瀬頒一郎 and 渡辺幸信 and 安部晋一郎 and 廖望 and 反保元伸 and 梅垣いづみ and 竹下聡史 and 下村浩一郎 and 三宅康博 and 橋本昌宜}, journal = {電子情報通信学会 集積回路研究会}, month = {4}, year = {2023}, } |