: 中山貴博, 橋本昌宜, 常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討, 2017年8月.
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| 中山貴博, 橋本昌宜, "常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討," 情報処理学会DAシンポジウム, 2017年8月. | |
| ID | 458 |
| 分類 | 国内会議(査読付き) |
| タグ | |
| 表題 (title) |
常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
中山貴博,橋本昌宜 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
情報処理学会DAシンポジウム |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
8 |
| 出版年 (year) |
2017 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id458,
title = {常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討},
author = {中山貴博 and 橋本昌宜},
journal = {情報処理学会DAシンポジウム},
month = {8},
year = {2017},
}
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