中山貴博, 橋本昌宜, "常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討," 情報処理学会DAシンポジウム, 2017年8月.
ID 458
分類 国内会議(査読付き)
タグ
表題 (title) 常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討
表題 (英文)
著者名 (author) 中山貴博,橋本昌宜
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) 情報処理学会DAシンポジウム
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 8
出版年 (year) 2017
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 利用できません.
BiBTeXエントリ
@article{id458,
         title = {常温で論理テスト可能な超低温動作VLSIのタイミング設計法の検討},
        author = {中山貴博 and 橋本昌宜},
       journal = {情報処理学会DAシンポジウム},
         month = {8},
          year = {2017},
}