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論文誌
[1] T.Kameda, H. Konoura, D. Alnajjar, Y. Mitsuyama, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Field Slack Assessment for Predictive Fault Avoidance on Coarse-Grained Reconfigurable Devices," IEICE Trans. on Information and Systems, volume E96-D, number 8, pages 1624--1631, August 2013. [191.pdf]