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W. Liao, M. Hashimoto, S. Manabe, S. Abe, and Y. Watanabe, "Similarity Analysis on Neutron- and Negative Moun-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM," IEEE Transactions on Nuclear Science, 66(7), 1390 -- 1397, July 2019.
ID 509
分類 論文誌
タグ 65-nm analysis bulk mcus moun-induced negative neutron- similarity sram
表題 (title) Similarity Analysis on Neutron- and Negative Moun-Induced MCUs in 65-nm Bulk SRAM
表題 (英文)
著者名 (author) W. Liao,M. Hashimoto,S. Manabe,S. Abe,Y. Watanabe
英文著者名 (author) W. Liao,M. Hashimoto,S. Manabe,S. Abe,Y. Watanabe
キー (key) W. Liao,M. Hashimoto,S. Manabe,S. Abe,Y. Watanabe
定期刊行物名 (journal) IEEE Transactions on Nuclear Science
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) 66
号数 (number) 7
ページ範囲 (pages) 1390 -- 1397
刊行月 (month) 7
出版年 (year) 2019
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id509,
         title = {Similarity analysis on neutron- and negative moun-induced {MCUs} in {65-nm} bulk {SRAM}},
        author = {W. Liao and M. Hashimoto and S. Manabe and S. Abe and Y. Watanabe},
       journal = {IEEE Transactions on Nuclear Science},
        volume = {66},
        number = {7},
         pages = {1390 -- 1397},
         month = {7},
          year = {2019},
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