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Y. Ogasahara, M. Hashimoto, T. Kanamoto, and T. Onoye, "Measurement of Supply Noise Suppression by Substrate and Deep N-Well in 90nm Process," Proceedings of IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC), pp. 397--400, November 2008.
ID 217
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Measurement of Supply Noise Suppression by Substrate and Deep N-Well in 90nm Process
表題 (英文)
著者名 (author) Y. Ogasahara,M. Hashimoto,T. Kanamoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 397--400
刊行月 (month) 11
出版年 (year) 2008
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 109.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id217,
         title = {Measurement of Supply Noise Suppression by Substrate and Deep N-well in 90nm Process},
        author = {Y. Ogasahara and M. Hashimoto and T. Kanamoto and T. Onoye},
       journal = {Proceedings of IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC)},
         pages = {397--400},
         month = {11},
          year = {2008},
}