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研究会・全国大会等
[1] 安田隆一, 高見一総, 五味唯美, 竹内浩造, 橋本昌宜, "能動学習とハイパーパラメータの適応的更新を用いたイベント単位で正確なビット反転識別手法," 電子情報通信学会VLSI設計技術研究会, 2025年1月.
[2] 五味唯美, 橋本昌宜, "ミューオン起因ソフトエラーの物理現象解明に向けた照射実験と解析," LSIとシステムのワークショップ, 2023年5月.
[3] 五味唯美, 高見一総, 水野るり惠, 新倉潤, Yifan DENG, 川瀬頒一郎, 渡辺幸信, 安部晋一郎, 廖望, 反保元伸, 梅垣いづみ, 竹下聡史, 下村浩一郎, 三宅康博, 橋本昌宜, "12-nm FinFETおよび28-nm プレナー型SRAMのミューオン起因ソフトエラー断面積の評価," 電子情報通信学会 集積回路研究会, 2023年4月.