Language: 英語 | 日本語 || ログイン |

1 件の該当がありました. : このページのURL : HTML

大津誠, 高橋真吾, 築山修治, 橋本昌宜, 白川功, "nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について," 情報処理学会システムLSI設計技術研究会, 2008-SLDM-134, pp. 121--126, 2008年3月.
ID 205
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について
表題 (英文)
著者名 (author) 大津誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功
英文著者名 (author) 大津誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功
キー (key) 大津誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功
定期刊行物名 (journal) 情報処理学会システムLSI設計技術研究会
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number) 2008-SLDM-134
ページ範囲 (pages) 121--126
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2008
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 利用できません.
BiBTeXエントリ
@article{id205,
         title = {nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について},
        author = {大津誠 and 高橋真吾 and 築山修治 and 橋本昌宜 and 白川功},
       journal = {情報処理学会システムLSI設計技術研究会},
        number = {2008-SLDM-134},
         pages = {121--126},
         month = {3},
          year = {2008},
}