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大津誠, 高橋真吾, 築山修治, 橋本昌宜, 白川功, "nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について," 情報処理学会システムLSI設計技術研究会, 2008-SLDM-134, pp. 121--126, 2008年3月. | |
ID | 205 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
nMOSレベルシフタ回路の性能比較手法について |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
大津誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功 |
英文著者名 (author) |
大津誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功 |
キー (key) |
大津誠,高橋真吾,築山修治,橋本昌宜,白川功 |
定期刊行物名 (journal) |
情報処理学会システムLSI設計技術研究会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
2008-SLDM-134 |
ページ範囲 (pages) |
121--126 |
刊行月 (month) |
3 |
出版年 (year) |
2008 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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