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橋本昌宜, "超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited)," 電子情報通信学会 集積回路研究会, ICD2016-22, pp. 53--58, 2016年8月.
ID 439
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) 超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited)
表題 (英文)
著者名 (author) 橋本昌宜
英文著者名 (author) 橋本昌宜
キー (key) 橋本昌宜
定期刊行物名 (journal) 電子情報通信学会 集積回路研究会
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number) ICD2016-22
ページ範囲 (pages) 53--58
刊行月 (month) 8
出版年 (year) 2016
Impact Factor (JCR)
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内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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