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橋本昌宜, "超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited)," 電子情報通信学会 集積回路研究会, ICD2016-22, pp. 53--58, 2016年8月. | |
ID | 439 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited) |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
橋本昌宜 |
英文著者名 (author) |
橋本昌宜 |
キー (key) |
橋本昌宜 |
定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会 集積回路研究会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
ICD2016-22 |
ページ範囲 (pages) |
53--58 |
刊行月 (month) |
8 |
出版年 (year) |
2016 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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