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| 橋本昌宜, "超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited)," 電子情報通信学会 集積回路研究会, ICD2016-22, pp. 53--58, 2016年8月. | |
| ID | 439 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited) |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
橋本昌宜 |
| 英文著者名 (author) |
橋本昌宜 |
| キー (key) |
橋本昌宜 |
| 定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会 集積回路研究会 |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
ICD2016-22 |
| ページ範囲 (pages) |
53--58 |
| 刊行月 (month) |
8 |
| 出版年 (year) |
2016 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません. |
| BiBTeXエントリ |
@article{id439,
title = {超低電圧SRAMのソフトエラー耐性 (Invited)},
author = {橋本昌宜},
journal = {電子情報通信学会 集積回路研究会},
number = {ICD2016-22},
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month = {8},
year = {2016},
}
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