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S. Hirokawa, R. Harada, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs," IEEE Transactions on Nuclear Science, 62(2), pp. 420--427, April 2015.
ID 404
分類 論文誌
タグ 0.4-v alpha- bulk characterizing mcu neutron-induced seu sotb srams
表題 (title) Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs
表題 (英文)
著者名 (author) S. Hirokawa,R. Harada,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author) S. Hirokawa,R. Harada,M. Hashimoto,T. Onoye
キー (key) S. Hirokawa,R. Harada,M. Hashimoto,T. Onoye
定期刊行物名 (journal) IEEE Transactions on Nuclear Science
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume) 62
号数 (number) 2
ページ範囲 (pages) 420--427
刊行月 (month) 4
出版年 (year) 2015
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 219.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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         title = {Characterizing alpha- and neutron-induced {SEU} and {MCU} on {SOTB} and bulk {0.4-V} {SRAMs}},
        author = {S. Hirokawa and R. Harada and M. Hashimoto and T. Onoye},
       journal = {IEEE Transactions on Nuclear Science},
        volume = {62},
        number = {2},
         pages = {420--427},
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          year = {2015},
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