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M. Hashimoto, "Toward Robust Subthreshold Circuit Design: Variability and Soft Error Perspective (Invited)," Proceedings of SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), October 2014.
ID 385
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Toward Robust Subthreshold Circuit Design: Variability and Soft Error Perspective (Invited)
表題 (英文)
著者名 (author) M. Hashimoto
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 10
出版年 (year) 2014
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 205.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id385,
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        author = {M. Hashimoto},
       journal = {Proceedings of SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)},
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