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S. Watanabe, M. Hashimoto, and T. Sato, "A Case for Exploiting Complex Arithmetic Circuits Towards Performance Yield Enhancement," Proceedings of International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED), pp. 401--407, March 2009.
ID 229
分類 国際会議
タグ
表題 (title) A Case for Exploiting Complex Arithmetic Circuits Towards Performance Yield Enhancement
表題 (英文)
著者名 (author) S. Watanabe,M. Hashimoto,T. Sato
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 401--407
刊行月 (month) 3
出版年 (year) 2009
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 122.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
@article{id229,
         title = {A Case for Exploiting Complex Arithmetic Circuits towards Performance Yield Enhancement},
        author = {S. Watanabe and M. Hashimoto and T. Sato},
       journal = {Proceedings of International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)},
         pages = {401--407},
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          year = {2009},
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