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橋本昌宜, "超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価," ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に関する第1回勉強会, 2011年9月. | |
ID | 384 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
橋本昌宜 |
英文著者名 (author) |
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キー (key) |
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定期刊行物名 (journal) |
ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に関する第1回勉強会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
9 |
出版年 (year) |
2011 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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