: 橋本昌宜, 超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価, 2011年9月.
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| 橋本昌宜, "超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価," ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に関する第1回勉強会, 2011年9月. | |
| ID | 384 |
| 分類 | 研究会・全国大会等 |
| タグ | |
| 表題 (title) |
超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価 |
| 表題 (英文) |
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| 著者名 (author) |
橋本昌宜 |
| 英文著者名 (author) |
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| キー (key) |
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| 定期刊行物名 (journal) |
ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に関する第1回勉強会 |
| 定期刊行物名 (英文) |
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| 巻数 (volume) |
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| 号数 (number) |
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| ページ範囲 (pages) |
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| 刊行月 (month) |
9 |
| 出版年 (year) |
2011 |
| Impact Factor (JCR) |
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| URL |
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| 付加情報 (note) |
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| 注釈 (annote) |
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| 内容梗概 (abstract) |
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| 論文電子ファイル | 利用できません． |
| BiBTeXエントリ |
@article{id384,
title = {超低電圧SRAMにおける中性子起因ソフトエラーの評価},
author = {橋本昌宜},
journal = {ソフトエラー(などのLSIにおける放射線効果)に関する第1回勉強会},
month = {9},
year = {2011},
}
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