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Y. Ogasahara, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Dynamic Supply Noise Measurement with All Digital Gated Oscillator for Evaluating Decoupling Capacitance Effect," Proceedings of IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC), pp. 783--786, September 2007.
ID 183
分類 国際会議
タグ
表題 (title) Dynamic Supply Noise Measurement with All Digital Gated Oscillator for Evaluating Decoupling Capacitance Effect
表題 (英文)
著者名 (author) Y. Ogasahara,M. Hashimoto,T. Onoye
英文著者名 (author)
キー (key)
定期刊行物名 (journal) Proceedings of IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages) 783--786
刊行月 (month) 9
出版年 (year) 2007
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
論文電子ファイル 90.pdf (application/pdf) [一般閲覧可]
BiBTeXエントリ
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         title = {Dynamic Supply Noise Measurement with All Digital Gated Oscillator for Evaluating Decoupling Capacitance Effect},
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