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上林幹宜, 小林和淑, 橋本昌宜, "LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, 2023年1月. | |
ID | 607 |
分類 | 研究会・全国大会等 |
タグ | |
表題 (title) |
LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価 |
表題 (英文) |
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著者名 (author) |
上林幹宜,小林和淑,橋本昌宜 |
英文著者名 (author) |
,,M. Hashimoto |
キー (key) |
,,M. Hashimoto |
定期刊行物名 (journal) |
電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会 |
定期刊行物名 (英文) |
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巻数 (volume) |
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号数 (number) |
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ページ範囲 (pages) |
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刊行月 (month) |
1 |
出版年 (year) |
2023 |
Impact Factor (JCR) |
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URL |
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付加情報 (note) |
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注釈 (annote) |
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内容梗概 (abstract) |
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論文電子ファイル | 利用できません. |
BiBTeXエントリ |
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