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上林幹宜, 小林和淑, 橋本昌宜, "LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価," 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会, 2023年1月.
ID 607
分類 研究会・全国大会等
タグ
表題 (title) LPDDR4 SDRAMとGDDR5 SDRAMのソフトエラー耐性の実測評価
表題 (英文)
著者名 (author) 上林幹宜,小林和淑,橋本昌宜
英文著者名 (author) ,,M. Hashimoto
キー (key) ,,M. Hashimoto
定期刊行物名 (journal) 電子情報通信学会 VLSI設計技術研究会
定期刊行物名 (英文)
巻数 (volume)
号数 (number)
ページ範囲 (pages)
刊行月 (month) 1
出版年 (year) 2023
Impact Factor (JCR)
URL
付加情報 (note)
注釈 (annote)
内容梗概 (abstract)
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BiBTeXエントリ
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