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| 著者名 (author) | 表題 (title) | 論文誌/会議名 | 巻号 | ページ範囲 (pages) | 出版年月 | JCR/採択率 | File | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 論文誌 |
Y. Gomi, A. Sato, W. Madany, K. Okada, S. Adachi, M. Itoh, M.Hashimoto |
A 55-nm SRAM Chip Scanning Errors Every 125 ns for Event-Wise Soft Error Measurement |
IEEE Solid-State Circuits Letters | 8 |
245-248 |
2025年9月 |
pdf |