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著者名 (author) 表題 (title) 論文誌/会議名 巻号 ページ範囲 (pages) 出版年月 JCR/採択率 File
論文誌
K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
A Gate-Delay Model Focusing on Current Fluctuation Over Wide Range of Process-Voltage-Temperature Variations
Integration, the VLSI Journal
46(4)
345--358
2013年9月

179.pdf
論文誌
K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
Extracting Device-Parameter Variations with RO-Based Sensors
IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
E94-A(12)
2537--2544
2011年12月

165.pdf
論文誌
T. Enami, K. Shinkai, S. Ninomiya, S. Abe, M. Hashimoto
Statistical Timing Analysis Considering Clock Jitter and Skew Due to Power Supply Noise and Process Variation
IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
E93-A(12)
2399--2408
2010年12月

148.pdf
論文誌
K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
Prediction of Self-Heating in Short Intra-Block Wires
IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
E93-A(3)
583--594
2010年3月

135.pdf
国際会議
Y. Higuchi, K. Shinkai, M. Hashimoto, R. Rao, S. Nassif
Extracting Device-Parameter Variations Using a Single Sensitivity-Configurable Ring Oscillator
Proceedings of IEEE European Test Symposium (ETS)

106--111
2013年5月

186.pdf
国際会議
K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
Extracting Device-Parameter Variations with RO-Based Sensors
ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)

13--18
2011年3月


国際会議
K. Shinkai, M. Hashimoto
Device-Parameter Estimation with On-Chip Variation Sensors Considering Random Variability
Proceedings of Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)

683--688
2011年1月

152.pdf
国際会議
S. Abe, K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
Clock Skew Reduction by Self-Compensating Manufacturing Variability with On-Chip Sensors
ACM Great Lake Symposium on VLSI (GLSVLSI)

197--202
2010年5月

143.pdf
国際会議
T. Enami, K. Shinkai, S. Ninomiya, S. Abe, M. Hashimoto
Statistical Timing Analysis Considering Clock Jitter and Skew Due to Power Supply Noise and Process Variation
ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)

41--46
2010年3月


国際会議
S. Abe, K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
Clock Skew Reduction by Self-Compensating Manufacturing Variability with On-Chip Sensors
ACM International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)

89--94
2010年3月


国際会議
K. Shinkai, M. Hashimoto
A Gate Delay Model Over Wide-Range of Process and Environmental Variability
ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)

79--84
2009年2月


国際会議
K. Shinkai, M. Hashimoto, T. Onoye
Future Prediction of Self-Heating in Short Intra-Block Wires
Proceedings of International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)

660-665
2007年3月

82.PDF
国際会議
K. Shinkai, M. Hashimoto, A. Kurokawa, T. Onoye
A Gate Delay Model Focusing on Current Fluctuation Over Wide-Range of Process and Environmental Variability
Proceedings of ACM/IEEE International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)

47-53
2006年11月

22.pdf
国際会議
K. Shinkai, M. Hashimoto, A. Kurokawa, T. Onoye
A Gate Delay Model Focusing on Current Fluctuation Over Wide-Range of Process Variations
ACM/IEEE International Workshop on Timing Issues in the Specification and Synthesis of Digital Systems (TAU)

59-64
2006年2月


国内会議(査読付き)
新開 健一, 橋本 昌宜, 黒川 敦, 尾上 孝雄
電流変動に着目した広範囲な製造・環境ばらつき対応ゲート遅延モデル
第19回 回路とシステム(軽井沢)ワークショップ

559-564
2006年4月

75.pdf
研究会・全国大会等
小笠原泰弘, 新開健一, 榎並孝司, 阿部慎也, 二宮進有, 橋本昌宜
ナノメートル世代のVLSIタイミング設計技術の研究
第10回システムLSIワークショップ

195-198
2006年11月


研究会・全国大会等
新開健一, 橋本昌宜, 尾上孝雄
短距離ブロック内配線の自己発熱問題の将来予測
2006年電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集
(A-3-14)

2006年9月

72.pdf