この検索内の頻出タグ: srams^:5 12-nm^:4 finfet^:4 muon-induced^:3 planar^:3 seu^:3 28-nm^:2 analysis^:2 cell^:2 different^:2 simulation^:2 types^:2 20-nm^:1 angular^:1 comparison^:1 cross^:1 files^:1 neutron-induced^:1 register^:1 sections^:1 sensitivity^:1 single-event^:1 upsets^:1

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\title{\LARGE\bf 研究業績リスト}

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\begin{document}
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\fancyhead[CE,CO]{\bf 研究業績リスト}
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\section{論文誌}
\label{sec:0}

\renewcommand{\labelenumi}{[\ref{sec:0}.\arabic{enumi}]}
\begin{enumerate}
\item
Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, R. Yasuda, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto, ``Muon-Induced {SEU} Analysis and Simulation for Different Cell Types in {12-nm} {FinFET} {SRAMs}, and {28-nm} Planar {SRAMs} and Register Files,'' IEEE Transactions on Nuclear Science,    採録済.
\item
T. Kato, M. Hashimoto, and H. Matsuyama, ``Angular Sensitivity of Neutron-Induced Single-Event Upsets in {12-nm} {FinFET} {SRAMs} with Comparison to {20-nm} Planar {SRAMs},'' IEEE Transactions on Nuclear Science, volume 67, number 7, 1485 -- 1493, July 2020.
\end{enumerate}
\section{国際会議}
\label{sec:1}

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\begin{enumerate}
\item
Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, R. Yasuda, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto, ``Muon-Induced {SEU} Analysis and Simulation for Different Cell Types in {12-nm} {FinFET} {SRAMs},'' Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),   September 2024.
\item
Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, I. Umegaki, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto, ``Muon-Induced {SEU} Cross Sections of {12-nm} {FinFET} and {28-nm} Planar {SRAMs},'' Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS),   September 2023.
\end{enumerate}
以上．
\end{document}