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国際会議
[1] Y. Gomi, K. Takami, R. Mizuno, M. Niikura, R. Yasuda, Y. Deng, S. Kawase, Y. Watanabe, S. Abe, W. Liao, M. Tampo, S. Takeshita, K. Shimomura, Y. Miyake, and M. Hashimoto, "Muon-Induced SEU Analysis and Simulation for Different Cell Types in 12-nm FinFET SRAMs," Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS), September 2024.