論文誌
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J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, K. Ito, W. Liao, M. Hashimoto, S. Abe, M. Harada, K. Oikawa, Y. Miyake
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Measurement of Single-Event Upsets in 65-nm SRAMs under Irradiation of Spallation Neutrons at J-PARC MLF
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IEEE Transactions on Nuclear Science
| 67(7)
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1599 -- 1605
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2020年7月
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国際会議
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S. Abe, T. Sato, J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, W. Liao, K. Ito, M. Hashimoto, M. Harada, K. Oikawa, Y. Miyake
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Impact of Hydrided and Non-Hydrided Materials Near Transistors on Neutron-Induced Single Event Upsets
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Proceedings of International Symposium on Reliability Physics (IRPS)
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2020年4月
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国際会議
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K. Ito, W. Liao, M. Hashimoto, J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, S. Abe, M. Harada, K. Oikawa, Y. Miyake
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Characterizing Neutron-Induced SDC Rate of Matrix Multiplication in Tesla P4 GPU
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Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)
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2019年9月
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国際会議
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J. Kuroda, S. Manabe, Y. Watanabe, K. Ito, W. Liao, M. Hashimoto, S. Abe, M. Harada, K. Oikawa, Y. Miyake
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Measurement of Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs under Irradiation of Spallation Neutrons at J-PARC MLF
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Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)
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2019年9月
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国際会議
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S. Iizuka, M. Mizuno, D. Kuroda, M. Hashimoto, T. Onoye
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Stochastic Error Rate Estimation for Adaptive Speed Control with Field Delay Testing
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Proceedings of International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD)
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107--114
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2013年11月
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| 193.PDF
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研究会・全国大会等
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橋本昌宜, 橋本鉄太郎, 西川亮太, 福田大輔, 黒田慎介, 菅俊介, 神原弘之, 小野寺秀俊
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オンデマンドライブラリを用いたシステムLSI詳細設計手法
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電子情報通信学会VLSI設計技術研究会
| (VLD99-112/ICD99-269)
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2000年3月
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