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この検索内の頻出タグ: 22-nm^:1 55-nm^:1 analysis^:1 distant^:1 dynamic^:1 event-wise^:1 mcu^:1 measurement^:1 proton-induced^:1 quasi^:1 srams^:1

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国際会議: [1] Yuibi Gomi, Kazusa Takami, Koyo Morita, and Masanori Hashimoto, "Proton-Induced Distant MCU Analysis with Quasi Event-Wise Dynamic Measurement in 22-nm and 55-nm SRAMs," Proceedings of International Reliability Physics Symposium (IRPS), 採録済.