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この検索内の頻出タグ: 65-nm^:1 beams^:1 bulk^:1 characterizing^:1 error^:1 muon^:1 neutron^:1 rates^:1 soft^:1 sotb^:1 srams^:1

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国際会議: [1] M. Hashimoto, W. Liao, S. Manabe, and Y. Watanabe, "Characterizing Soft Error Rates of 65-nm SOTB and Bulk SRAMs with Muon and Neutron Beams (Invited)," Proceedings of SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), October 2018. [pdf]