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論文誌
[1] S. Hirokawa, R. Harada, M. Hashimoto, and T. Onoye, "Characterizing Alpha- and Neutron-Induced SEU and MCU on SOTB and Bulk 0.4-V SRAMs," IEEE Transactions on Nuclear Science, volume 62, number 2, pages 420--427, April 2015. [219.pdf]